印制板及其組件(PCB&PCBA)是電子產品的核心部件,PCB&PCBA的可靠性直接決定了電子產品的可靠性。為了保證和提高電子產品的質量和可靠性,對失效進行全面的理化分析,確認失效的內在機理,從而有針對性地提出改善措施。
電子元器件失效分析的目的是借助各種測試分析技術和分析程序確認電子元器件的失效現象,分辨其失效模式和失效機理,確認最終的失效原因,提出改進設計和制造工藝的建議,防止失效的重復出現,提高元器件可靠性。
集成電路復雜度與性能要求的持續攀升,疊加設計、制造、封裝及應用環節的潛在風險,導致短路、開路、漏電、燒毀、參數漂移等關鍵失效模式頻發。這不僅造成昂貴的器件報廢與系統宕機,更常引發設計方、代工廠、封測廠與終端用戶間的責任爭議,帶來重大經濟損失與信譽風險。
高分子材料性能要求持續提升,而客戶對高要求產品及工藝的理解差異,導致斷裂、開裂、腐蝕、變色等典型失效頻發,常引發供應商與用戶間的責任糾紛及重大經濟損失。
金屬構件服役環境日益苛刻,對材料性能和結構可靠性提出更高要求。然而,設計缺陷、材料瑕疵、制造偏差或不當使用等因素,極易引發疲勞斷裂、應力腐蝕開裂、氫脆、蠕變、磨損、過載變形等典型失效。
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PCBA波峰焊“吹孔”、上錫不良,別再怪助焊劑了!根本原因是它!

發布時間: 2026-03-25 00:00
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“這批板子的波峰焊良率,怎么突然掉了5%?”

這是我們收到的一位客戶的緊急求助。

產線上,一批PCBA產品在波峰焊過程中,插件焊點頻繁出現“吹孔”現象——焊點表面有針孔狀的噴氣痕跡,內部空洞明顯,上錫嚴重不足。

委托方提供了多個批次的樣品,包括:

  • 嚴重吹孔成品

  • 輕微吹孔成品

  • 未焊接插件

  • PCB光板

  • 正常成品

  • 助焊劑樣品

到底是助焊劑活性不足?爐溫曲線有盲區?還是PCB或元器件本身存在“隱形缺陷”?

為了查明真因,我們為客戶安排了一次全面“體檢”——從外觀檢查到CT斷層掃描,從表面分析到剖面切片,再到可焊性驗證,逐一排查,層層深挖。


1.外觀與透視——先看表象,再看本質

首先,工程師利用體視顯微鏡對PCBA吹孔焊點進行光學檢查。

  • 嚴重吹孔成品PCB孔環周圍呈現明顯的潤濕不良特征,焊錫未能充分鋪展。

嚴重吹孔成品光學檢查典型照片

嚴重吹孔成品光學檢查典型照片

  • 輕微吹孔成品焊點發現輕微吹孔異常。

輕微吹孔成品光學檢查典型照片

輕微吹孔成品光學檢查典型照片

隨后,采用CT斷層掃描技術對PCBA吹孔焊點進行內部結構分析。

  • 嚴重吹孔成品焊點內部局部無焊錫填充。

嚴重吹孔成品CT掃描圖片

嚴重吹孔成品CT掃描圖片

  • 輕微吹孔成品焊點內部存在較大空洞,空洞分布位置無明顯規律性。

輕微吹孔成品CT掃描圖片

輕微吹孔成品CT掃描圖片

上述分析確認,該缺陷源于焊料與焊盤/引腳之間未能形成良好的冶金結合,而非單純的工藝參數波動。

2.問題成品解剖——先看“傷口”長什么樣

隨后,工程師采用場發射掃描電子顯微鏡(SEM)對PCBA吹孔焊點表面進行放大觀察。

  • 嚴重吹孔成品孔環附近存在助焊劑殘留。

嚴重吹孔成品表面形貌及EDS成分分析譜圖

嚴重吹孔成品表面形貌及EDS成分分析譜圖

  • 輕微吹孔成品孔邊緣檢出含溴(Br)、氯(Cl)等元素的點狀異物。

輕微吹孔成品表面形貌及EDS成分分析譜圖

輕微吹孔成品表面形貌及EDS成分分析譜圖

將PCBA吹孔焊點切開后,通過金相顯微鏡與SEM進行內部觀察:

  • 合金化異常: 吹孔焊點通孔側局部鍍層存在明顯合金化現象,拐角處尤為嚴重,呈現典型的潤濕不良特征。

不良焊點切片后金相及SEM+EDS分析結果

不良焊點切片后金相及SEM+EDS分析結果

  • 鍍層結構缺陷: 金相顯微鏡下可見部分區域鍍層發黑,甚至出現局部缺失。

不良焊點切片后金相及SEM+EDS分析結果

不良焊點切片后金相及SEM+EDS分析結果

  • 元素異常: 能譜分析(EDS)顯示,發黑區域檢出異常硫元素(S)及較高含量的氧元素(O)。

不良焊點切片后金相及SEM+EDS分析結果

不良焊點切片后金相及SEM+EDS分析結果

綜上,問題焊點的PCB側鍍層存在先天性缺陷,主要表現為合金化異常與含硫污染物殘留。


3.來料排查——插件“清白”,PCB“露餡”

為追溯缺陷根源,工程師對未焊接的插件引腳與PCB光板分別進行了系統性分析。

  • 插件引腳分析: 掃描電鏡(SEM)觀察顯示,引腳表面僅存在少量可清洗的點狀污染物,未見明顯異常;隨后的可焊性測試進一步證實:在標準浸錫條件下,引腳表面潤濕性良好,未出現上錫不良現象;據此,插件引腳作為失效主因的可能性被排除。

插件引腳表面形貌及EDS成分譜圖
插件引腳表面形貌及EDS成分譜圖

插件引腳表面形貌及EDS成分譜圖

  • PCB光板分析: 表面分析表明,PCB孔環錫層存在明顯的合金化現象;更為關鍵的是,通孔拐角處檢測出含硫(S)污染物,個別區域還檢出氯(Cl)元素;且不良率越高的PCB板,其合金化區域范圍越廣,呈現明顯的相關性。

PCB光板表面形貌及EDS成分譜圖
PCB光板表面形貌及EDS成分譜圖
PCB光板表面形貌及EDS成分譜圖

PCB光板表面形貌及EDS成分譜圖

為進一步探明內部結構,工程師對PCB光板進行了剖面分析。

  • 分析結果顯示:通孔內部鍍層均勻性較差,局部存在嚴重合金化,甚至出現鍍層發黑、局部缺失等結構異常;在發黑區域,同時探測到高含量的氧(O)與異常元素硫(S)。

PCB光板剖面形貌及EDS成分譜圖

PCB光板剖面形貌及EDS成分譜圖

4.可焊性驗證——對照實驗一錘定音

為驗證上述發現與吹孔缺陷的因果關系,工程師依據IPC標準對PCB光板進行了邊緣浸焊測試。

  • 測試結果與失效分析高度吻合:浸焊后,PCB孔內出現大小不一的空洞,且空洞位置的鍍層成分恰為前期檢出的硫、氧等元素;作為對照,插件引腳在同等條件下順利通過測試。

PCB光板浸焊后剖面形貌及EDS成分譜圖
PCB光板浸焊后剖面形貌及EDS成分譜圖
PCB光板浸焊后剖面形貌及EDS成分譜圖

PCB光板浸焊后剖面形貌及EDS成分譜圖


根本原因:

簡單來說,就是“先天不足(鍍層合金化)+后天污染(含硫物質)”,共同導致了焊點在波峰焊過程中“焊不上去”,甚至產生吹孔。

  1. 內因——PCB鍍層質量缺陷:PCB通孔鍍層(HASL工藝)存在嚴重的合金化異常。這使得鍍層表面失去了應有的可焊性,變得難以被焊料潤濕。尤其是在通孔的拐角處,合金化最為嚴重,成為潤濕失敗的“重災區”。

  2. 外因——污染物的“臨門一腳”:PCB通孔鍍層結構存在異常(顏色發黑),并檢測到了含硫(S)、氧(O)等異常元素。硫化物是典型的可焊性殺手,它會嚴重阻礙焊料的鋪展,導致在焊接過程中產生氣體,形成吹孔或空洞。

改進建議:

  1. 嚴控源頭:PCB供應商在制造過程中,必須嚴格控制PCB焊盤及通孔鍍層的質量。特別是對于HASL工藝,要優化制程參數,避免因金屬間化合物過度生長導致的“鍍層合金化”問題。

  2. 排查污染源:立即排查PCB通孔表面含硫(S)污染物的來源。是PCB制造過程中的殘留(如某些清洗劑、助焊劑殘留),還是來料儲存環境所致?找到源頭并切斷它,是徹底解決問題的關鍵。

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